Automatique
Master Physique appliquée et ingénierie physiqueParcours Systèmes électroniques et microélectroniques
ComposanteFaculté de physique et ingénierie
Catalogue2024-2025
Description
Comportement des systèmes linéaires asservis échantillonnés :
- Effet de l’échantillonnage sur les systèmes en boucle fermée (conversion analogique – numérique / numérique – analogique, repliement spectral, fonctions de transfert numériques) ;
- Analyse des systèmes asservis échantillonnés linéaires : stabilité, lieu des racines, précision.
Conception de correcteurs numériques à partir d’un cahier des charges :
- Trasnposition de correcteurs analogiques ;
- Correcteurs numériques classiques (P, PI, PD, PID) ;
- Réglages fréquentiels des correcteurs ;
- Réglage par placement de pôles ;
- Calculs algébriques (correcteurs RST).
Ouverture vers l’automatique plus avancée :
- Amélioration du suivi de consigne par anticipation.
Compétences visées
- Etre capable d’asservir ou réguler un procédé électro-mécanique simple ;
- Pouvoir implémenter des lois de commande numériques ;
- Pouvoir comprendre et améliorer le fonctionnement d’un système asservi ;
- Comprendre les avantages et difficultés liées à la commande numérique par rapport à la commande analogique ;
- Savoir utiliser un logiciel de conception et de simulation de systèmes (Matlab / Control toolbox / Simulink).
Bibliographie
- Emmanuel Godoy et Eric Ostertag, Commande numérique des systèmes, Technosup – Ellipses, 2003 ;
- Philippe de Larminat, Automatique appliquée, Hermès, 2007 ;
- G. F. Franklin, J.D. Powell et A. Emami-Naeini, Feedback control of dynamic systems, Prentice Hall, 2002.
Contacts
Responsable(s) de l'enseignement
MCC
Les épreuves indiquées respectent et appliquent le règlement de votre formation, disponible dans l'onglet Documents de la description de la formation.
- Régime d'évaluation
- CT (Contrôle terminal, mêlé de contrôle continu)
- Coefficient
- 0.67
Évaluation initiale / Session principale - Épreuves
Libellé | Type d'évaluation | Nature de l'épreuve | Durée (en minutes) | Coéfficient de l'épreuve | Note éliminatoire de l'épreuve | Note reportée en session 2 |
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Epreuve écrite | CT | ET | 120 | 0.67 |
Seconde chance / Session de rattrapage - Épreuves
Libellé | Type d'évaluation | Nature de l'épreuve | Durée (en minutes) | Coéfficient de l'épreuve | Note éliminatoire de l'épreuve |
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Epreuve écrite | CT | ET | 120 | 0.67 |