Micro-capteurs compatibles CMOS
Master Physique appliquée et ingénierie physiqueParcours Systèmes électroniques et microélectroniques
Description
Phénomènes physiques auxquels le silicium est sensible et permettant la réalisation de capteurs sur puce :
- effets thermo-électriques,
- galvanomagnétiques,
- piézo-résistifs,
- interaction rayonnement/matière
Calcul de la résolution d’un capteur
Exemples de micro-capteurs sur silicium :
- Micro-capteurs basés sur des effets thermoélectriques (capteur de température, accéléromètre thermique, anémomètre thermique...)
- Micro-capteurs magnétiques (Plaque à effet Hall et « spinning-current », MAGFET, capteur magnétique vibrant)
- Illustration au travers de ces exemples de micro-capteurs de l’avantage de la co-intégration sur la même puce de silicium de l’élément sensible et de l'électronique de conditionnement.
- Exemples d'applications industrielles et médicales.
Démonstration de l’outils de conception de micro-capteur Coventor
Compétences visées
Ce cours a pour objectif de fournir à l’étudiant les connaissances fondamentales permettant la réalisation de micro-capteurs sur silicium et de montrer en quoi la co-intégration de l’élément sensible et de l’électronique permet d’améliorer les performances métrologiques du système.
Compétences visées :
1. Disciplinaires
- Savoir décrire et expliquer les quatre effets physiques permettant la réalisation de capteurs sur silicium
- Savoir calculer la résolution d’un capteur
- Savoir expliquer le principe de fonctionnement des capteurs thermo-électriques vus en cours
- Savoir expliquer le principe de fonctionnement des capteurs de Hall horizontaux et verticaux
- Savoir expliquer et utiliser le principe du « spinning-current » dans un capteur à effet Hall
2. Transversales
- Savoir rechercher des informations et faire preuve d’analyse critique
- Savoir planifier son travail en pleine autonomie
MCC
Les épreuves indiquées respectent et appliquent le règlement de votre formation, disponible dans l'onglet Documents de la description de la formation.
- Régime d'évaluation
- CT (Contrôle terminal, mêlé de contrôle continu)
- Coefficient
- 1.0
Évaluation initiale / Session principale - Épreuves
Libellé | Type d'évaluation | Nature de l'épreuve | Durée (en minutes) | Coéfficient de l'épreuve | Note éliminatoire de l'épreuve | Note reportée en session 2 |
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Micro-capteurs CMOS | CC | ET | 90 | 1.00 |