Description

• Présenter les spectroscopies d’électrons pour l’analyse des surfaces : analyse structurale des surfaces (LEED, RHEED), spectroscopies (XPS, AES, EXAFS, EELS, SIMS).

Compétences visées

• Acquérir des connaissances sur les méthodes de caractérisations de surfaces ;
• Etre capable de choisir une méthode adapté à un contexte industriel et un cas donné.

Contacts

Responsable(s) de l'enseignement

• Samy Boukari

MCC

Les épreuves indiquées respectent et appliquent le règlement de votre formation, disponible dans l'onglet Documents de la description de la formation.

Régime d'évaluation

CT (Contrôle terminal, mêlé de contrôle continu)

Coefficient

1.0

Évaluation initiale / Session principale - Épreuves