Description

Ce cours vise présente :

• L’instrument lui-même, ses performances et ses limites ;
• Sa contrainte majeure, la préparation d’échantillon ;
• Le mode imagerie et le mode diffraction ;
• Les spectroscopies associées au MET.

Les objectifs du cours sont :

• d'étudier la structure et la chimie de nanomatériaux à une résolution sub nanométrique ;
• de connaitre l’origine du contraste en MET pour savoir interpréter une image et exploiter des clichés de diffraction pour la détermination de la structure de nanomatériaux ;
• de comparer cette technique locale avec d’autres techniques plus globales, telle que la Microscopie Electronique à Balayage et la diffraction des rayons X.

Compétences visées

Interpréter une image et un cliché de diffraction obtenues en microscopie électronique en transmission

Bibliographie

Que sais-je ? « La microscopie électronique en transmission » de Christian Colliex
http://temsamprep.in2p3.fr/livre.php?lang=fr : Préparation d’échantillon pour MET

MCC

Les épreuves indiquées respectent et appliquent le règlement de votre formation, disponible dans l'onglet Documents de la description de la formation.

Régime d'évaluation

CT (Contrôle terminal, mêlé de contrôle continu)

Coefficient

1.0

Évaluation initiale / Session principale - Épreuves