Testabilité des circuits intégrés
Master Physique appliquée et ingénierie physiqueParcours Systèmes électroniques et microélectroniques

Catalogue2024-2025

Description

  • Généralités sur la problématique du test industriel ;
  • Modèles de défaillances ;
  • Générations de vecteurs de test ;
  • Simulation de fautes ;
  • Conception en vue du Test, Test intégré ;
  • TP de test de CI numérique sur testeur industriel du CRTC (Centre de Ressources en Test et CAO du pôle CNFM (Coordination Nationale pour la Formation en Micro-électronique et nano-technologie) de Montpellier.

Compétences visées

  • Etre en mesure de comprendre et d'utiliser un testeur numérique industriel.

Contacts

Responsable(s) de l'enseignement

MCC

Les épreuves indiquées respectent et appliquent le règlement de votre formation, disponible dans l'onglet Documents de la description de la formation.

Régime d'évaluation
CT (Contrôle terminal, mêlé de contrôle continu)
Coefficient
1.0

Évaluation initiale / Session principale - Épreuves

LibelléType d'évaluationNature de l'épreuveDurée (en minutes)Coéfficient de l'épreuveNote éliminatoire de l'épreuveNote reportée en session 2
Epreuve écrite
CTET601.00

Seconde chance / Session de rattrapage - Épreuves

LibelléType d'évaluationNature de l'épreuveDurée (en minutes)Coéfficient de l'épreuveNote éliminatoire de l'épreuve
Epreuve écrite
CTET601.00