UE 4 - Semestre 3 - Medical imaging: physical basics

UE 4 - Semestre 3 - Medical imaging: physical basics
Master PhysiqueParcours Radiation Physics, Detector, Instrumentation and Imaging

Credits3 crédits
Catalogue2024-2025

Description

  • Introduction : Mesure et mesurande, chaîne d’acquisition d’un signal analogique avec déclenchement, conditionnement et temps mort ;
  • Luminescence : Fluorescence et Phosphorescence ; détecteurs à base de matière scintillante et transparente ;
  • Transducteurs optoélectroniques de très haute sensibilité : tube photomultiplicateur simple anode et multi anodes. Tube photomultiplicateur sensible à la position ;
  • Ionisation, transport et amplification de charge dans des milieux gazeux : La chambre à fils et ses différents modes (Geiger, MWPC et tube à dérive). La trajectographie par détecteurs Multi-échantillons et MSGC. Détection optique des avalanches. Trajectographie à projection temporelle. Application en imagerie ;
  • Détecteurs à semi-conducteurs : Diodes PIN et LED, Photodiode à avalanche (APD), photo-détecteur hybride (HPD), Micro-pistes à silicium, Micro-pixels à silicium ;
  • Electronique de proximité : amplification bas bruit, mise en forme rapide, déclenchement et auto-déclenchement. Intégration ou mise en forme adéquate. Echantillonnage du signal ;
  • Numérisation du signal : La conversion analogique-numérique et les CAN (discrets et intégrés). Le multiplexage.
  • Détecteurs monolithiques : Détecteurs intégrant l’électronique de proximité. CCD et améliorations ;
  • Système d’acquisition : Notion de traitement temps réel et d’électronique numérique embarquée. Transfert et stockage de données. Les bus et châssis industriels (PCI, VME et ponts d’interconnexion) ;
  • Outils informatiques de développement de logiciels d’acquisition de données : LabVIEW, Custom avec C++ ou Java Real Time ;
  • Système intégré de conditionnement du signal : détecteurs silicium ;
  • Mesure d’énergies et de positions (microstrips et pixels). Systèmes d’électronique de lecture : architecture élémentaire de circuits intégrés CMOS (sources de courant, miroir de courant, suiveur de source, amplificateurs cascade et différentiel). Sources de bruit (bruit thermique, bruit de grenaille, et 1/f). Mesure de charges (amplificateurs de charges et de transimpédance). Filtrage et mise en forme (shaping). Systèmes de double échantillonnage. Génération de signaux : oscillateurs et générateurs de fonctions. PLL et DLL. Bruit de phase. Convertisseurs Analogique-Numérique (CAN) : CAN Flash. CAN à approximation successive. Convertisseur Pipeline. CAN Sigma-Delta. CAN à rampe analogique.

MCC

Les épreuves indiquées respectent et appliquent le règlement de votre formation, disponible dans l'onglet Documents de la description de la formation.

Régime d'évaluation
CT (Contrôle terminal, mêlé de contrôle continu)
Coefficient
1.0