Description

• Présenter les spectroscopies d’électrons pour l’analyse des surfaces : analyse structurale des surfaces (LEED, RHEED), spectroscopies (XPS, AES, EXAFS, EELS, SIMS).

Compétences visées

• Acquérir des connaissances sur les méthodes de caractérisations de surfaces ;
• Etre capable de choisir une méthode adapté à un contexte industriel et un cas donné.

Contacts

Responsable(s) de l'enseignement

• Samy Boukari