Changement d'intitulé à la rentrée 2024-2025 :
- Cursus master ingénierie parcours Systèmes électroniques et microélectroniques
- Cursus master ingénierie parcours Mécatronique, énergie et systèmes intelligents
Plaquette de la formation
Syllabus des unités d'enseignement spécifiques au CMI
Testabilité des circuits analogiques et mixtes
Cursus master ingénierie (CMI)Parcours Cursus Master en Ingénierie Systèmes électroniques et micro-électroniques (CMI SEME)
ComposanteFaculté de physique et ingénierie
Description
La conception et la fabrication de circuits intégrés impactent sur la qualité du produit réalisé.
Compte tenu de l’accroissement du besoin de sécurité de fonctionnements des équipements basés sur des circuits intégrés, le test des CI fabriqués est aujourd’hui une étape critique.
Dans ce cours nous commençons par présenter les réels besoins de tests de fin de production.
On ne fera ici aucune distinction entre un circuit numérique et analogique.
Dans la suite du cours nous aborderons les tests plus spécifiques aux circuits Mixtes.
On traitera des procédures de tests permettant d’augmenter la fiabilité de ces tests (méthode des outliers).
On traitera aussi des circuits mixtes complexes (SoC) avec plusieurs cœurs (méthode des wrappers).
Finalement on traitera des procédures spécifiques aux circuits purement analogiques.
Compétences visées
- Comprendre l’importance des tests puis distinguer les différentes méthodes présentées afin de les combiner en vue d’un meilleur résultat du taux d’erreurs.
- Connaissance des principales méthodes de tests des circuits intégrés.