UE 4 - Semestre 3 - Medical imaging: physical basics

UE 4 - Semestre 3 - Medical imaging: physical basics
Master PhysiqueParcours Radiation Physics, Detector, Instrumentation and Imaging

Credits3 crédits

Description

  • Introduction : Mesure et mesurande, chaîne d’acquisition d’un signal analogique avec déclenchement, conditionnement et temps mort ;
  • Luminescence : Fluorescence et Phosphorescence ; détecteurs à base de matière scintillante et transparente ;
  • Transducteurs optoélectroniques de très haute sensibilité : tube photomultiplicateur simple anode et multi anodes. Tube photomultiplicateur sensible à la position ;
  • Ionisation, transport et amplification de charge dans des milieux gazeux : La chambre à fils et ses différents modes (Geiger, MWPC et tube à dérive). La trajectographie par détecteurs Multi-échantillons et MSGC. Détection optique des avalanches. Trajectographie à projection temporelle. Application en imagerie ;
  • Détecteurs à semi-conducteurs : Diodes PIN et LED, Photodiode à avalanche (APD), photo-détecteur hybride (HPD), Micro-pistes à silicium, Micro-pixels à silicium ;
  • Electronique de proximité : amplification bas bruit, mise en forme rapide, déclenchement et auto-déclenchement. Intégration ou mise en forme adéquate. Echantillonnage du signal ;
  • Numérisation du signal : La conversion analogique-numérique et les CAN (discrets et intégrés). Le multiplexage.
  • Détecteurs monolithiques : Détecteurs intégrant l’électronique de proximité. CCD et améliorations ;
  • Système d’acquisition : Notion de traitement temps réel et d’électronique numérique embarquée. Transfert et stockage de données. Les bus et châssis industriels (PCI, VME et ponts d’interconnexion) ;
  • Outils informatiques de développement de logiciels d’acquisition de données : LabVIEW, Custom avec C++ ou Java Real Time ;
  • Système intégré de conditionnement du signal : détecteurs silicium ;
  • Mesure d’énergies et de positions (microstrips et pixels). Systèmes d’électronique de lecture : architecture élémentaire de circuits intégrés CMOS (sources de courant, miroir de courant, suiveur de source, amplificateurs cascade et différentiel). Sources de bruit (bruit thermique, bruit de grenaille, et 1/f). Mesure de charges (amplificateurs de charges et de transimpédance). Filtrage et mise en forme (shaping). Systèmes de double échantillonnage. Génération de signaux : oscillateurs et générateurs de fonctions. PLL et DLL. Bruit de phase. Convertisseurs Analogique-Numérique (CAN) : CAN Flash. CAN à approximation successive. Convertisseur Pipeline. CAN Sigma-Delta. CAN à rampe analogique.